技術(shù)文章
Technical articlesX熒光光譜儀是一種常用的光譜技術(shù)，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。對于不同的應(yīng)用用途，X熒光光譜儀體系中探測器的選擇也不盡相同。對于定性分析往往需要用到硅漂移探測器。硅漂移探測器（SDDs）能夠提高低能量敏感度，使得X射線熒光光譜技術(shù)可以對一些低原子序數(shù)元素進(jìn)行檢測分析，甚至是在空氣氣氛中也能進(jìn)行檢測，例如用于測量化學(xué)鍍鎳涂層中磷元素（原子序數(shù)Z=15）的含量。但是，大多數(shù)的低原子序數(shù)元素的檢測分析依然還需要隔離空氣氣氛。近年來比較流行的是一種...
對樣品進(jìn)行測試時，樣品的拆分一定要做好相關(guān)的準(zhǔn)備工作，然后按照要求進(jìn)行拆分。以下內(nèi)容詳細(xì)介紹ROHS檢測儀器測試樣品時的拆分準(zhǔn)備與要求：一、環(huán)境1、拆分區(qū)域與實驗室拆分區(qū)域應(yīng)相對，并足夠用于拆分操作。保持拆分環(huán)境潔凈，室內(nèi)溫度在20-25度左右，濕度低于80%。對溫濕度應(yīng)實施監(jiān)控，并應(yīng)避免陽光直射。本要求同時適合于ROHS測試實驗室的環(huán)境要求。2、拆分工作臺拆分工作臺應(yīng)平整呢個、潔凈、耐磨損、耐腐蝕、有足夠承重力，臺面面積應(yīng)滿足拆分工作和樣品擺放的要求。3、安全防護(hù)應(yīng)避免拆分...
X熒光光譜儀的分析方法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復(fù)操作可能性，所以用于制作標(biāo)準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品必須經(jīng)過同樣的制樣處理過程。X射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污。1、由樣品制備和樣品自身引起的誤差：（1）樣品的均勻性。（2）樣品的表面效應(yīng)。（...
覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)進(jìn)行成品質(zhì)量檢測必要的最重要的工序，鍍層測厚儀的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進(jìn)步而更加至關(guān)重要，下面總結(jié)測厚儀購買需要注意的八大事項：1.首先需要了解測試的需求，如測試基體材料、涂鍍層材料、測試范圍及精度需求，若濕膜或高溫條件下測量時需特別說明。2.其次對于塑料膜，紙巾，錫紙厚度的測量，測量儀型號的選擇不受限制。3.對于有曲率的工件需提供曲率半徑值，對比鍍層測厚儀的曲率是否滿足現(xiàn)場測量需求，如超標(biāo)需要配置特配探頭。4.從正規(guī)渠道購買鍍層測...
鍍層是一種用金屬在表面沉積的工藝，已有數(shù)百年的歷史，被廣泛應(yīng)用于輕工業(yè)、電子電氣、機(jī)械等行業(yè)，現(xiàn)已成為了社會發(fā)展中不可少的基礎(chǔ)工藝。隨著工業(yè)經(jīng)濟(jì)對鍍層技術(shù)的需求日期增加，對電鍍層的質(zhì)量也有了更嚴(yán)格的要求。這也要求對電鍍制品的檢查方法和評判技術(shù)，需要在時間、方法、精準(zhǔn)度等方面更加高效。鍍層質(zhì)量檢查的內(nèi)容因零件和鍍層而異，但其中鍍層的厚度是鍍件品質(zhì)的最重要保證因素。相比于傳統(tǒng)的陽極溶解庫侖法、金相法、溶解稱重法、液流法、點滴法等鍍層測量方法，XRF技術(shù)因為其無損、快速、可靠等優(yōu)點...
鍍層測量儀的測量方法主要有、楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。它是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的重要手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。鍍層測量儀的性能特點有哪些？1、采用雙功能內(nèi)置式探頭，自動識別...
ROHS檢測儀器就是X射線熒光光譜儀，其分析事理也就是X射線熒光光譜儀的分析事理。X射線熒光光譜儀常日可分為兩大類，波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀緊張部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和干系電子與控制部件，相對大略。波長色散X射線熒光光譜儀利用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，顛末進(jìn)程測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：λ=2dsinaθ(n=1,...
合金分析儀主要用于鋼鐵、石化、電力、醫(yī)藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成分的現(xiàn)場測定。隨著世界經(jīng)濟(jì)的崛起，它是快速識別零部件的工具。合金分析儀可以定量分析元素周期表中90%以上的元素，從鎂到較重的元素。這些可測量的元素涵蓋了我們商業(yè)開發(fā)和合金中使用的大多數(shù)傳統(tǒng)元素。合金分析儀使用的的測試x光熒光分析儀技術(shù)能力的方法，可以根據(jù)獲得材料的主要成分信息，獲得鋁合金、不銹鋼、鉻鉬合金、多管和法蘭材料。很多公司都是基于這些合金、青銅合金等材料。比鎂輕的元素不能用合金分析儀直接檢測。合金分析儀檢測...
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